光儲(chǔ)充設(shè)備EMC測(cè)試項(xiàng)目有哪些?光儲(chǔ)充檢是集成光伏發(fā)電、儲(chǔ)能、電動(dòng)汽車(chē)充電及電池檢測(cè)功能的充電基礎(chǔ)設(shè)施,通過(guò)光伏系統(tǒng)發(fā)電并儲(chǔ)存于磷酸鐵鋰電池,實(shí)現(xiàn)電動(dòng)汽車(chē)快速充電和電池狀態(tài)實(shí)時(shí)檢測(cè),同時(shí)儲(chǔ)能系統(tǒng)可調(diào)節(jié)電網(wǎng)峰谷負(fù)荷,提升供電穩(wěn)定性。
EMI(電磁干擾)測(cè)試項(xiàng)目
輻射發(fā)射(RE)測(cè)試
傳導(dǎo)發(fā)射(CE)測(cè)試
騷擾功率測(cè)試
諧波電流測(cè)試
電壓閃爍測(cè)試
靜電放電(ESD)測(cè)試
射頻電磁場(chǎng)抗擾度(RI)測(cè)試
電快速瞬變脈沖群抗擾度(EFT)測(cè)試
沖擊(雷擊&浪涌)抗擾度(SURGE)測(cè)試
射頻場(chǎng)感應(yīng)傳導(dǎo)抗擾度(CI)測(cè)試
工頻磁場(chǎng)抗擾度(PFMI)試驗(yàn)
電壓暫降、短時(shí)中斷、電壓變化抗擾度(DIPS)測(cè)試
GB/T 17625.2, IEC/EN 61000-3-3:電磁兼容限值對(duì)每相額定電流 ≤16A 且無(wú)條件接入的設(shè)備在公用低壓供電系統(tǒng)中產(chǎn)生的電壓變化、電壓波動(dòng)和閃爍的限制
GB/T 17625.7-2013:電磁兼容限值對(duì)額定電流≤75 A且有條件接入的設(shè)備在公用低壓供電系統(tǒng)中產(chǎn)生的電壓變化、電壓波動(dòng)和閃爍的限制
GB/T 17625.8-2015:電磁兼容限值每相輸入電流大于16 A小于等于75 A連接到公用低壓系統(tǒng)的設(shè)備產(chǎn)生的諧波電流限值
GB/T 17626.2-2018:電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 靜電放電抗擾度試驗(yàn)
GB/T 17626.3-2023:電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)
GB/T 17626.4-2018:電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)
GB/T 17626.5-2019:電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 浪涌(沖擊) 抗擾度試驗(yàn)
GB/T 17626.6-2017:電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度
GB/T 17626.8-2006:電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 工頻磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)
GB/T 17626.11-2023:電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電壓暫降、 短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)
GB/T 17626.29-2006:電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)直流電源輸入端口電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)
GB/T 17626.34-2012:電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 主電源每相電流大于16 A 的設(shè)備的電壓暫降、 短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度試驗(yàn)
GB/T 17799.1, IEC/EN 61000-6-1:電磁兼容 通用標(biāo)準(zhǔn) 居住、 商業(yè)和輕工業(yè)環(huán)境中的抗擾度試驗(yàn)
GB/T 17799.2, IEC/EN 61000-6-2:電磁兼容 通用標(biāo)準(zhǔn) 工業(yè)環(huán)境中的抗擾度試驗(yàn)
GB 17799.3, IEC/EN 61000-6-3:電磁兼容 通用標(biāo)準(zhǔn) 居住、 商業(yè)和輕工業(yè)環(huán)境中的發(fā)射
GB 17799.4, IEC/EN 61000-6-4:電磁兼容 通用標(biāo)準(zhǔn) 工業(yè)環(huán)境中的發(fā)射